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    德國AHF ANALYSENTECHNIK 光學儀器配件

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    更新時間：2024-12-10型號：AG訪問量：798
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    美國QUEST(QI2)光學成像系統，非接觸式測量系統 MOI 是一種高效且高效的無損評估 (NDE) 過程，可用于檢測緊固件附近飛機蒙皮的表面和亞表面裂紋，以及亞表面腐蝕

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